Format PDF
MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE
A l’issue de cette formation, le stagiaire sera capable de :
• Comprendre la théorie relative au fonctionnement du microscope à force atomique.
• Comprendre les aspects d’interactions physiques entre la sonde et la surface et les aspects de contrôle et
Public concerné :
- Tout public
- 3 jours
Date/lieux :
- Nous consulter
- Non défini
Equipe pédagogique :
- Spécialistes du domaine
Approche pédagogique :
- Alternance de cours et de travaux pratiques sur AFM
Renseignement pédagogique :
- RESSIER Laurence
- fcq@insa-toulouse.fr
Frais de participation individuels
:
- 2000 € HT
Renseignements et inscriptions
:
- Inscription :
- Tél : +33(0)5.61.55.92.53
- Fax :
- Email :
- Date limite d'inscription : 1 mois avant
Nombre de places limitées
:
- Min/Max : 4 à 6 personnes
Prérequis :
- L1
Programme :
-
Cours théoriques + Travaux dirigés
- Travaux pratiques
Apprentissage de l’observation topographique en modes Contact et Tapping Initiation au mode Peak Force Tapping et à quelques modes dérivés : spectroscopie de force, Liquide, EFM, MFM, nanolithographie... - Travaux pratiques
Apprentissage de l’observation topographique en modes Contact et Tapping Initiation au mode Peak Force Tapping et à quelques modes dérivés : spectroscopie de force, Liquide, EFM, MFM, nanolithographie...
Principe de la microscopie à force atomique
Les différents modes de caractérisation topographique : - Contact
- Tapping,
- Peak Force Tapping
Les principaux modes dérivés :
- Spectroscopie de force, - EFM,
- KFM,
- MFM,
- lithographie...
Validation :
- Cette formation constitue une action d’adaptation et de développement des compétences. Elle donne lieu à la délivrance d’une attestation de participation. Une évaluation de fin de formation permet de mesurer la satisfaction des stagiaires, notamment concernant l’atteinte des objectifs pédagogiques.
